| REFERANS | DEBTI27419/24-1 |
|---|---|
| TÜR | AB BTB |
| GTİP | 9031.41.00 |
| KISA TANIM | Gofret ince film ölçüm cihazı. |
| TANIM | "ELIPSOMETRE", ESAS OLARAK, BIRKAÇ LAZER, PRIZMA, FOTODEDEKTÖR, BAĞLANTI KAFASI VE DÖNER TABLADAN OLUŞAN OPTIK ÜNITENIN BIR CIHAZ SISTEMINDEN (FONKSIYONEL ÜNITE), PRIZMA BAĞLANTI KONTROL ÜNITESINE KABLOLARLA BAĞLI OLMASINDAN, BIR SICAKLIK KONTROL ÜNITESINDEN, BIR BILGISAYARDAN OLUŞUR. BIR MONITÖR, BIR ARAYÜZ VE GGFS. BIR MATBAACI. ÖLÇÜLECEK NUMUNE, PNÖMATIK OLARAK ÇALIŞTIRILAN BIR BAĞLANTI BAŞLIĞI KULLANILARAK BIR PRIZMANIN TABANI ILE TEMASA GETIRILIR VE BU DA FILM ILE PRIZMA ARASINDA KÜÇÜK BIR HAVA BOŞLUĞU OLUŞTURUR. LAZER IŞINI PRIZMANIN TABANINA ÇARPAR VE PRIZMANIN TABANINDAKI BIR FOTODETEKTÖRE TAMAMEN YANSITILIR. OLAY AÇISININ (MOD AÇISI) BELIRLI AYRIK DEĞERLERINDE, FOTONLAR HAVA BOŞLUĞU ÜZERINDEN FILME TÜNELLEME YAPABILIR VE BIR REHBERLI OPTIK YAYILMA MODUNA GIREBILIR VE BU DA DETEKTÖR'E ULAŞAN IŞIĞIN YOĞUNLUĞUNDA ÖNEMLI BIR DÜŞÜŞE NEDEN OLABILIR. CIHAZ, YARI ILETKEN GOFRETLERIN DÜZLEMSEL INCE FILM TABAKALARINI (KALINLIK, REFERANS INDEKSI) ÖLÇMEK VE ANALIZ ETMEK IÇIN KULLANILIR. DIŞ FORM IÇIN EK'TEKI RESIME BAKINIZ. ÜRÜNLER, "90. BÖLÜMDE BAŞKA BIR YERDE BELIRTILMEYEN VEYA DAHIL EDILMEYEN, 9031 1000 ILA 90312000 ALT BAŞLIKLARI DIŞINDA, YARI ILETKEN GOFRELERIN VEYA YARI ILETKEN BILEŞENLERININ MUAYENE EDILMESI VEYA YARI ILETKEN BILEŞENLERIN ÜRETIMI IÇIN FOTOMASKLARIN VE RETIKLERIN MUAYENE EDILMESI IÇIN OPTIK ÖLÇÜM VEYA KONTROL CIHAZI" OLARAK SINIFLANDIRILMIŞTIR ". |
| BAŞLANGIÇ TARİHİ | 27.01.2025 |
| BİTİŞ TARİHİ | 26.01.2028 |
| YABANCI TANIM | "ELLIPSOMETER", IM WESENTLICHEN BESTEHEND AUS EINEM GERÄTESYSTEM (FUNKTIONELLE EINHEIT) AUS DER OPTIKEINHEIT MIT MEHREREN LASERN, PRISMA, FOTODETEKTOR, KOPPLUNGSKOPF UND DREHTISCH, ÜBER KABEL VERBUNDEN MIT DER PRISMENKOPPLER-BEDIENEINHEIT, EINER TEMPERATURKONTROLLEINHEIT, EINEM PC, EINEM MONITOR, EINER SCHNITTSTELLE UND GGFS. EINEM DRUCKER. DIE ZU MESSENDE PROBE WIRD MITHILFE EINES PNEUMATISCH BETRIEBENEN KUPPLUNGSKOPFES MIT DER BASIS EINES PRISMAS IN KONTAKT GEBRACHT, WODURCH EIN KLEINER LUFTSPALT ZWISCHEN DEM FILM UND DEM PRISMA ENTSTEHT. EIN LASERSTRAHL TRIFFT AUF DIE BASIS DES PRISMAS UND WIRD AN DER PRISMENBASIS VOLLSTÄNDIG AUF EINEN FOTODETEKTOR REFLEKTIERT. BEI BESTIMMTEN DISKRETEN WERTEN DES EINFALLSWINKELS (MODUSWINKEL) KÖNNEN PHOTONEN ÜBER DEN LUFTSPALT IN DEN FILM TUNNELN UND IN EINEN GEFÜHRTEN OPTISCHEN AUSBREITUNGSMODUS EINTRETEN, WODURCH DIE INTENSITÄT DES LICHTS, DAS DEN DETEKTOR ERREICHT, STARK ABFÄLLT. DAS GERÄT DIENT ZUR MESSUNG UND ANALYSE PLANARER DÜNNFILMSCHICHTEN (DICKE, BRECHUNGSINDEX) VON HALBLEITERSCHEIBEN (WAFERN). ZUR ÄUßEREN FORM SIEHE ABBILDUNG IN ANLAGE. DIE WARE WIRD ALS "OPTISCHES GERÄT ZUM MESSEN ODER PRÜFEN, IN KAPITEL 90 ANDERWEIT WEDER GENANNT NOCH INBEGRIFFEN, ANDERES ALS UNTERPOSITION (KN) 9031 1000 BIS 90312000, ZUM PRÜFEN VON HALBLEITERSCHEIBEN (WAFERS) ODER HALBLEITERBAUELEMENTEN ODER ZUM PRÜFEN VON FOTOMASKEN UND RETICLES FÜR DIE HERSTELLUNG VON HALBLEITERBAUELEMENTEN" EINGEREIHT. |
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